검사 및 연구용 코디드 정립 광학 현미경

(VISORIA M)

VISORIA M 재료 현미경

(VISORIA M Materials Microscope)

일상 현미경 검사에서 향상된 효율성과 편안함을 경험해 보십시오. Visoria M 재료 현미경은 금속, 전자 및 고분자 산업은 물론 재료 과학 실험실에서도 사용할 수 있습니다.

인코딩 기능, 최적화된 조명 설정 및 기타 현미경 기능으로 워크플로우를 간소화하세요. 또한 인체공학적 설계로 만들어져 더욱 편안하게 사용하고 긴장을 최소화할 수 있습니다.

인코딩 기능을 통한 효율성 향상

현미경 루틴 검사 작업의 효율성을 높이십시오. 간소화된 문서화 및 인코딩 현미경 기능으로 귀중한 시간을 절약하고 샘플에만 집중할 수 있습니다.

최적화된 조명 설정으로 시간 절약

Visoria M을 사용하면 샘플을 관찰하고 검사하는 데 더 많은 시간을 할애할 수 있습니다. 현미경의 확대 또는 대비 방법을 바꾸더라도 조명 관리 기능 덕분에 밝기를 수동으로 조정하지 않아도 됩니다. 현미경의 인코딩 덕분에 조명이 자동으로 설정됩니다.

문서화 간소화

이미지를 보면서 버튼 하나만 누르면 샘플 세부 정보를 빠르게 캡처할 수 있습니다. 이 이미지 촬영 버튼은 Visoria M 현미경 스탠드에서 쉽게 손 닿는 곳에 위치합니다. 문서용 이미지를 저장하면 선택한 시스템 설정이 이미지의 메타 데이터와 함께 자동으로 저장됩니다. 스케일 바가 자동으로 조정되어 이미지에 추가되므로 효율성이 오르고 귀중한 시간이 절약됩니다.

손쉬운 현미경 작동

Visoria M 의 직관적인 조작 방식 덕분에 일상 작업의 속도와 안정성이 높아집니다.

컬러 코딩으로 각 대물렌즈에 맞는 적절한 조리개를 쉽게 찾을 수 있습니다.
내장된 초점 정지 기능으로는 실수로 인한 손상으로부터 샘플과 대물렌즈를 보호할 수 있습니다.
더 높은 배율로 더 미세한 초점을 원한다면, 3단 기어 초점 시스템(조동, 중간, 미동)을 사용하십시오.

최적의 조명으로 샘플을 관찰할 수 있습니다. 왼쪽 이미지는 조명 관리 기능을 사용했고, 오른쪽 이미지는 조명 관리 기능 없이 촬영했습니다.

현미경 스탠드에 있는 버튼을 한 번만 누르면 이미지를 바로 촬영하여 시간과 노력을 절약할 수 있습니다.

입사 광원 축의 조리개 다이어프램 눈금에는 대물렌즈 색상 코드와 일치하는 색상 표시가 있습니다.

Visoria M 디지털 재료 현미경에는 Flexacam i5 카메라 및 Enersight 소프트웨어가 탑재되어 있습니다.

ENERSIGHT 소프트웨어 플랫폼 기반

Visoria M 재료 현미경과 Enersight 소프트웨어 플랫폼으로 워크플로우를 단순화하고 간소화하세요. 직관적인 단일 인터페이스를 통해 데이터를 매끄럽게 비교, 측정 및 공유할 수 있습니다.

주요 장점:

Layer Thickness Measurement (레이어 두께 측정) 기능을 사용하여 코팅 또는 레이어의 두께를 결정합니다.
수동 스테이지 (Manual Stage) 기능과 XY 스티칭을 사용하여 더 넓은 시야각과 더 높은 해상도로 샘플을 관찰합니다.
확장된 피사계 심도 (EDOF)로 샘플 이미지를 선명하게 촬영합니다.
Quick Brightness (빠른 밝기) 기능을 사용하여 최적의 조명과 카메라 설정으로 이미지를 캡처합니다.
고르지 않은 조명으로 인한 음영을 자동으로 보정하여 이미지를 최적화합니다.
명시야 및 암시야 등 다양한 대비 방법으로 여러 이미지를 병합하여 샘플의 이해도를 높입니다.

반자동 측정은 코팅 또는 레이어의 최소, 최대 및 평균 두께 정보를 제공합니다.

XY 스티칭 기능을 사용하면 해상도가 높은 샘플의 넓은 영역을 관찰할 수 있습니다.

올바른 대비로 샘플 세부 정보 시각화

산업 및 재료 검사 및 R&D 분야에 Visoria M 을 사용하면 샘플의 스크래치나 오염 등 구조와 결함의 디테일을 확인할 수 있습니다. 명시야, 암시야, 편광, 미분간섭 (DIC), 경사광 및 형광 등 다양한 대비 방법을 사용합니다. 특히 경사광은 표면 지형의 시각화를 개선하는 데 도움이 됩니다.

Visoria M 을 사용하여 동일한 개재물을 A) 명시야, B) 암시야, C) DIC 및 D) 경사광으로 촬영한 이미지.

0.7x 매크로 대물렌즈를 사용한 빠른 샘플 오버뷰

매크로 구조를 시각화해야 하는 경우 샘플 오버뷰에서 0.7x 매크로 대물렌즈(옵션)를 사용하면 미세한 디테일을 관찰할 수 있습니다. 약 36mm 의 샘플 직경 보기를 한눈에 볼 수 있으며 빠른 방향 확정 및 오버뷰를 얻을 수 있습니다. 기존의 대물렌즈로 얻은 오버뷰와 비교해보면 샘플을 스크리닝할 때 매크로 대물렌즈를 사용할 경우 시간을 더 절약할 수 있습니다. 또한 다양한 대물렌즈를 사용하여 샘플의 미세한 디테일을 더 높은 배율로 시각화할 수 있습니다.

0.7x Macro HCX Plan Apo EPI Objective 를 사용하여 Visoria M 으로 촬영한 코팅된 나사산 샘플의 이미지.

Visoria M 재료 현미경으로 다양한 대비 방법을 사용하여 부품, 구성품 및 재료의 샘플을 효율적으로 시각화하고 분석할 수 있습니다. 전자, 금속 및 고분자 산업은 물론 재료 과학의 응용 분야와 관련하여 명시야, 암시야, DIC, 편광 및 경사광으로 표면 구조를 표시할 수 있습니다.

Visoria M 은 품질 관리, 고장 분석 및 R&D와 관련된 다양한 유형의 루틴 검사 작업에 사용할 수 있습니다.

명시야 (BF)

입사광 명시야 대비를 사용하여 샘플 특징을 측정합니다.

전자 디스플레이, 5x, BF

암시야 (DF)

입사광 암시야 대비를 사용하여 표면 구조 및 오염을 감지합니다.

전자 디스플레이, 5x, DF

미분간섭대비 (DIC)

DIC로 샘플 표면을 검사하여 지형 차이를 시각화합니다.

전자 디스플레이, 5x, DIC

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